کاربرد مولدهای سیگنال آنالوگ در ارزیابی و مشخصهیابی مدارهای فرکانس رادیویی
تحریریه آموزش24

خلاصه
مولدهای سیگنال آنالوگ فشرده نقشی اساسی در اعتبارسنجی و مشخصهیابی زیرسیستمهای فرکانس رادیویی و مایکروویو ایفا میکنند. با استفاده از این ابزارها، مهندسان میتوانند پارامترهای کلیدی تقویتکنندهها مانند نقطه فشردهسازی توان، اعوجاج مدولاسیون متقابل مرتبه سوم و همچنین حساسیت گیرندهها در برابر سیگنالهای تداخلگر را با سرعت و دقت بالا ارزیابی کنند.
مقدمه و اهمیت آزمون در فرکانسهای رادیویی توسعه و بهینهسازی زیرسیستمهای فرکانس رادیویی (RF) و مایکروویو، مستلزم ارزیابی دقیق ادوات فعال نظیر تقویتکنندههای کمنویز (LNA)، تقویتکنندههای توان (PA) و مدارهای مجتمع گیرنده است. در این میان، استفاده از مولدهای سیگنال آنالوگ به عنوان منابع تحریک دقیق و پایدار، سنگ بنای اندازهگیریهای مشخصهیابی RF به شمار میرود. نسل جدید مولدهای سیگنال آنالوگ با ابعاد فشرده و سرعت سوئیچینگ فرکانسی بالا، چالشهای مربوط به فضای محدود آزمایشگاهی و زمانبر بودن تستهای متوالی در خطوط تولید را برطرف کردهاند. ### مشخصهیابی تقویتکنندهها: بهره و نقطه فشردهسازی توان (P1dB) یکی از گامهای بنیادین در ارزیابی تقویتکنندههای RF، اندازهگیری بهره خطی و تعیین آستانه رفتار غیرخطی آنها است. در توانهای ورودی پایین، تقویتکننده رفتاری کاملاً خطی از خود نشان میدهد و توان خروجی با شیب یکنواخت نسبت به ورودی افزایش مییابد. با این حال، با افزایش دامنه سیگنال، قطعه به ناحیه اشباع نزدیک شده و فشردهسازی بهره رخ میدهد. نقطه فشردهسازی یک دسیبل (1dB Compression Point یا P1dB) معیاری استاندارد برای نشان دادن مرز گذار از عملکرد خطی به غیرخطی است. در این نقطه، بهره تقویتکننده دقیقاً یک دسیبل کمتر از بهره سیگنال کوچک ایدهآل است. برای اندازهگیری این پارامتر، مولد سیگنال آنالوگ باید بتواند توان ورودی را با گامهای بسیار دقیق میلیدسیبلی جاروب کند تا مهندسان بتوانند منحنی پاسخ توان خروجی بر حسب ورودی را استخراج کرده و حداکثر توان خطی قابل استفاده قطعه را مشخص سازند. ### اعوجاج مدولاسیون متقابل و نقطه برخورد مرتبه سوم (IP3) رفتار غیرخطی تقویتکنندهها فراتر از کاهش بهره است؛ هنگامی که چند سیگنال با فرکانسهای متفاوت به طور همزمان وارد یک محیط غیرخطی میشوند، پدیده مدولاسیون متقابل (Intermodulation Distortion یا IMD) رخ میدهد. در روش آزمون دو نغمهای (Two-Tone Test)، دو سیگنال حامل سینوسی با فاصله فرکانسی معین توسط دو منبع آنالوگ یا یک منبع چندکاناله همزمان تولید و به ورودی تقویتکننده اعمال میشوند. حاصلضربهای غیرخطی حاصل از این فرآیند، به ویژه مولفههای مرتبه سوم که در مجاورت فرکانسهای اصلی پدیدار میشوند، فیلتر کردن آنها را در عمل غیرممکن میسازد. نقطه برخورد مرتبه سوم (Third-Order Intercept Point یا IP3) یک مفهوم ریاضی و عملیاتی است که نشان میدهد در چه سطحی از توان، مولفههای ناخواسته مرتبه سوم به سطح سیگنالهای مطلوب میرسند. مقدار بالاتر IP3 به معنای خطی بودن برتر قطعه و تداخل کمتر در سامانههای پهنباند مخابراتی است. ### ارزیابی گیرندهها در مواجهه با سیگنالهای مسدودکننده (Blocker Rejection) در محیطهای مخابراتی مدرن، گیرندهها به طور مداوم در معرض سیگنالهای پرتوان ناخواسته یا تداخلگرها قرار دارند. این سیگنالها حتی اگر با فرکانس کاری کانال مورد نظر گیرنده فاصله داشته باشند، میتوانند طبقات تقویتکننده اولیه و مخلوطکنندهها را به اشباع برده و حساسیت گیرنده را به شدت تضعیف کنند (پدیده Desensitization). برای ارزیابی ظرفیت رد تداخلگر، از مولدهای سیگنال آنالوگ با خروجی توان بالا و خلوص طیفی مطلوب (نویز فاز پایین) استفاده میشود تا سیگنال مسدودکننده با فرکانسهای افست مختلف شبیهسازی شود. سرعت بالای تعویض فرکانس (Fast Frequency Switching) در این مولدها امکان اسکن سریع باندهای فرکانسی مجاور و شناسایی نقاط ضعف گیرنده را در فرآیند آزمونهای پذیرش فراهم میآورد. ### کالیبراسیون توان، اندازهگیری RSSI و نقش نوسانساز محلی (LO) دقت گیرندهها در سنجش توان سیگنال ورودی، که تحت عنوان شاخص کیفیت سیگنال دریافتی (RSSI) شناخته میشود، نیازمند کالیبراسیون مکرر در چندین کانال و باند فرکانسی است. مولدهای سیگنال آنالوگ فشرده با ارائه سطوح توان کالیبرهشده، تکرارپذیری بالای نتایج را در شرایط دمایی مختلف تضمین میکنند. علاوه بر این، در مراحل اولیه طراحی و پیش از ساخته شدن مدارهای نهایی سنتیزایزر، یک مولد سیگنال آنالوگ با نویز فاز پایین میتواند به عنوان نوسانساز محلی خارجی (Local Oscillator) جایگزین شود. این رویکرد به طراحان امکان میدهد تا بخش مخلوطکننده و پردازش باند پایه را به صورت مستقل از نقایص نوسانساز داخلی مورد آزمون قرار دهند و ریشه خطاهای احتمالی سیستم را با دقت تفکیک کنند.
منبع اصلی
https://content.knowledgehub.wiley.com/fast-rf-device-testing-with-analog-sources-a-practical-guide-to-amplifier-and-receiver-characterization/IEEE Spectrum
این فناوری در آموزش24 قابل دسترس است
پلتفرم آموزش24 از جدیدترین فناوریهای هوش مصنوعی برای ارتقای تجربه آموزشی استفاده میکند.
مشاهده تعرفهها

